手持式四探针电阻率测试仪
型号：
M-3
产品概述：
M-3手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、高性价比测量仪器。广泛适用于半导体材料厂、科研单位、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
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技术参数产品视频实验案例警示/应用提示配件详情
名称

手持式四探针电阻率测试仪-M-3
产品特征


  • 测试仪由M-3型主机和四探针探头两部分组成

  • 手持式设计，带完善厚度、形状修正功能，测试精准

  • 宽量程：超宽五个档位，相当于中档台式机的量程

  • 操作简便、性能稳定：轻触数字化键盘实现参数设定、功能转换，LED数字表头显示

  • 多款探头可选，适用于各种不同材料的导电性能测试
工作电源


  • 208-240V，50/60Hz

  • 电池供电：DC3.7V
探头

  • 根据不同材料特性需要，探头可有多款选配

    碳化钨探针探头（固体材料）：测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料（详见图1）

    球形或平头镀金铜合金探针探头（薄膜）：可测金属箔、碳纸等导电薄膜，也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底上导电涂层膜，如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层（详见图2）

  • 探头头部安装有平衡基座避免人手操作的误差（详见图3）

图1图2 图3
选配

可选配快速恒压四探针测试台，对测试压力进行调节保证恒压测试，提高测试的精确度
测量范围、分辨率

  • 电阻：0.010～50.00kΩ 分辨率：0.001～10 Ω

  • 电阻率：0.010～20.00kΩ-cm 分辨率：0.001～10 Ω-cm

  • 方块电阻：0.050～100.00kΩ/m2  分辨率0.001～10Ω/m2
基本误差

±1%FSB±2LSB
外形尺寸

210mm L × 100mm W × 36mm H
净重

0.3kg
质保期

一年保质期，终生维护
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